王红  副教授

自动化系副主任

通信地址:北京清华大学自动化系  邮政编码:100084
联系电话:010-62792973
Email:wang_hong@tsinghua.edu.cn

教育背景

1988年9月-1992年7月 天津大学 自动化系    获工业自动化专业和经济学专业双学士学位

1992年9月-1995年3月 天津大学 自动化系    获工业自动化专业硕士学位

2000年9月-2005年12月 清华大学 自动化系在职攻读博士 获工学博士学位

工作履历

2004年4月-2004年10月  美国麻省理工学院 电气与计算机科学系    访问学者

1995年4月-至今   清华大学 自动化系    任教

1995年4月-1997年7月  清华大学 自动化系    助教

1997年7月-2006年12月  清华大学 自动化系    讲师

2006年12月-至今  清华大学 自动化系    副教授

学术兼职

华北电子技术教学研究会  理事

中国计算机学会容错计算专业委员会委员

研究领域

[1] 电子电路可靠性设计
数字、模拟电路设计,鲁棒性电路系统设计

[2] 电子系统和设备的测试与故障诊断
测试技术,测试理论和自动测试设备

[3] 仪器仪表技术
高精度仪器仪表设计,工业级测量仪器

奖励与荣誉

2008年 获“霍英东教育基金会第十一届高等院校青年教师奖”,自然科学类三等奖

2008年 教材“数字电子技术基础”获清华大学优秀教材特等奖(排名第2)

2008年 获清华大学先进个人奖

2007年 项目“模拟电路测试向量自动生成平台”获中国人民解放军总装备部颁发的军队科技进步二等奖(排名第4)

2006年 项目“数字电路板故障诊断测试集自动测试系统”获得中国人民解放军总装备部颁发的军队科技进步一等奖(排名第4)

2005年 项目“数字电路板故障诊断测试集自动测试系统”获国防科工委颁发的“国防科学技术进步三等奖”(排名第3)

2005年 获“清华大学青年教师教学优秀奖”

2004年 获“清华大学教学成果优秀奖”

2004年 获“首届清华大学青年教师基本功大赛”一等奖

学术成果

主要论著
[1] 胡庚,王红,杨士元. 非线性模拟电路的故障诊断方法. 计算机辅助设计与图形学报,2009, Vol.21,No.1,1-5

[2] Hu Geng, Wang Hong, Yang Shiyuan. Combined Self-Test of Analog Portion and ADCs in Integrated Mixed-Signal Circuits. IEICE Trans. on Information and System, 2008, Vol.E91_D, No.8, August,2134-2140

[3] 胡梅,王红,杨士元,胡庚. 基于电压增量的非线性模拟电路软故障诊断. 系统工程与电子技术, 2008, Vol.30, No.2,379-383 Reliability, 46(2006), p1199-1208

[4] 成本茂,王红,杨士元,牛道恒,靳洋. 基于可测性分析的高层次寄存器分配算法.东南大学学报(自然科学版)2008, Vol.38, No.3, 396-400

[5] 牛道恒,王红,杨士元. 序列对递增生成的SOC测试调度算法. 北京邮电大学学报, 2007, 10, Vol.30, No.5,19-23

[6] Niu Daoheng, Wang Hong, Yang Shiyuan. Relation-Matrix approach for sequence pair decoding. Journal of Information and Computational Science, 2007, 7, Vol.4, No.2,643-650

[7] Niu Daoheng, Wang Hong, Yang Shiyuan. Re-Optimization Algorithm for SoC Wrapper-Chain Balance Using Mean-Value Approximation. Tsinghua Science and Technology, Vol.12, No.S1, July 2007,61-66

[8] Hu Mei, Wang Hong, Hu Geng, Yang Shiyuan. Soft Fault Diagnosis for Analog Circuits Based on Slope Fault Feature and BP Neural Networks. Tsinghua Science and Technology, Vol.12, No.S1, July 2007,26-31

[9] 邢建辉,王红,杨士元,成本茂. 构造SoC级透明路径的0-1规划方法.清华大学学报(自然科学版),2007,01,Vol.47,No.1,147-149,153

[10] 王红,成本茂,杨士元. 一种非同步时序电路的测试生成方案. 电子科技大学学报,2007,Vo1.36,No.4, 733-736

[11] Xing Jian-hui, Wang Hong, Yang Shi-yuan. Constructing Transparency Paths for IP Cores Using Greedy Search. Microelectronics Reliability,2006, Vol.46, No.7, 1199-1208

[12] 吴超, 王红, 杨士元. SoC测试集成的研究环境构建. 计算机辅助设计与图形学学报,2006, Vo1.18,No.7, 988-993

[13] 吴超,王红,杨士元. 基于复用的SOC测试集成和IEEE P1500标准. 微电子学,2005,35(3), 240-245

[14] Wang Hong, Xing Jian-hui,Yang Shi-yuan. A Test generation Approach For Non-Synchronous Sequential Circuit.In Proc. Of 7th Electronic Measurement & Instruments,2005, Vol.1, 475-480

[15] Xing Jian-hui, Wang Hong, Yang Shi-yuan. Constructing Transparency Paths for IP Cores Using Greedy Searching Strategy. In Proc.of IEEE Asian Test Symposium, Taiwan, Nov. 2004, 14-19

[16] 王红,邢建辉,杨士元. 基于复用的SOC测试技术. 半导体技术,2004,29(5), 49-51

[17] Xing Jian-hui, Wang Hong, Yang Shi-yuan. On Measuring the Transparentability of Cores in Core-based ICs. In Proc.of 5th International Conference on ASIC, April. 2003, 1145-1150

[18] 王红,邢建辉,杨士元. 基于复用的SOC测试技术. 半导体技术,Vol.29, No.5,pp49-51

[19] 薛月菊,王红,杨士元等. 数字电路的层次化测试生成新趋势. 哈尔滨工业大学学报,2003,Vol.35, No.11, 1281-1284